CH按键寿命试验机

CH按键寿命试验机

CH按键寿命试验机CH按键寿命试验机可测试NOTEBOOK(手机，PDA)之按键及各种按钮，开关之耐久寿命试验，可同时测试数个产品，另每个按键可设定不同压力及不同高低。

CH按键寿命试验机技术参数1、动作行程：10mm(固定)

2、工件高低调整范围：100mm

3、夹具夹持能力：400*300mm

4、测头安装范围：350*250mm

5、试验次数：999999*10次(可调)

6、试验速度：60~300Rpm(可调)

7、电压：AC220V 或110V

按键寿命试验机荷重测头调整1、荷重范围：50-450g或100-1000g

2、测头高低调整：15mm

3、两支测头小间隔：X方向10mm，Y方向12mm