X-射线CT成像分析仪CT-COMPACT
发布时间：2018-01-08 02:27:32 分类：行业动态 来源： 点击：次
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X-射线CT成像分析仪CT-COMPACT
长度计量仪器 显微镜 生化/分子生物 无损检测仪器/设备 详细说明
仪器介绍
用于工业无损检测及测量，全自结构断层分析，快速三维重建，广泛用于各
类材料的内部几何参量分析及精密工业逆向工程的科学研究。
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