金属电子逸出功测定采用理查孙直线法测定金属钨的电子逸出功

金属电子逸出功测定采用理查孙直线法测定金属钨的电子逸出功

金属电子逸出功测定仪产品简介：电子逸出功实验仪为大学近代物理实验，了解热电子发射的基本规律，测定金属钨的电子逸出功，数据采集采用四块三位半数字表独立显示，无需另接测量仪表，数据稳定。金属电子逸出功测定仪实验内容：1.仪器有电源部分和理想二极管装置组成，测量金属电子逸出功。2.研究二极管的伏安特性。3.用磁控条件测量电子荷质比。4.费米狄拉克分布研究。金属电子逸出功测定仪技术参数：理想二极管电 源：0-8V精 度：0.01V 三位半数字显示灯丝电流：DC0～0.8A精 度：0.01A 三位半数字显示阳极电压：0～200V精 度：0.01V 三位半数字显示电 源：AC220V 50Hz金属电子逸出功测定仪标准配置：金属电子逸出功测定 一套使用说明书 一份合格证 一份电源线 一根