耐电压测试仪为何深受人们的青睐选用呢

耐电压测试仪为何深受人们的青睐选用呢

模块设计

耐压测试需要监测的参数是:变压器输出高电压的值和测试回路的漏电流值(如图2)。测试系统中所使用的升压变压器二次绕组有0~5000V和0~5V两路电压输出，当变压器二次绕组高压输出从0V到5000V变化时，变压器二次绕组低压输出从0V到5V之间变化，两路输出之间具有良好的线性关系。测试开始在设定的升压时间间隔内，变压器二次绕组低压侧输出的电压经隔离变压器和信号调理电路后进入单片机ADCm842，单片机ADCm842中的12位ADC以每秒42万次转换速度进行高速A/D转换，A/D转换后的数字量传送给计算机并与计算机设定值相比较，直到输出电压符合设定电压值，我们就认为实际输出测试电压满足了我们设定值的要求。

耐压测试系统漏电流的测试范围是0mA ~20mA，测试开始时，被测设备漏电流通过电流互感器，然后经I/V转换电路将采样电流转换成电压在单片机内进行相应的A/D转换和计算，最终得到被测设备在设定电压条件下的泄漏电流值，通过和安全标准规定的泄漏电流值相比较，就可以检验设备耐压测试是否合格。实际测试时，在电流互感器二次侧设计了过流保护电路，当有过流情况出现时，例如被测设备被击穿或者被测设备绝缘缺陷，电源迅速被切断，测试被终止以保护测试系统不被损坏。

常规的信号调理部分采用真有效值的模拟运算，泄漏电流信号的有效值和峰值运算都是由硬件电路完成后输入单片机或计算机的。这种信号调理方式最终只能获得泄漏电流信号的峰值或有效值。这种方法不仅精度不高而且损失了频率信息，不能真实的复现泄漏电流的实际波形。本系统采用了高速的A/D转换将交流电压值直接采集进计算机，按照用户要求计算出峰值和有效值，并且画出实时的漏电流波形使用户能直观的监测漏电流情况。计算机还可以进行软件校正，去除漂移、失调造成的误差。按照实际情况还可以采用数字滤波的方式去除高频干扰，这种信号调理方式简化了硬件电路，成本较低，测试精度高，测试稳定性好。由于耐压测试的试验电压较高，为了保证试验的安全性，在测试过程中要保证测试系统机箱外壳良好的接地。

折叠计算机控制系统

单片机ADCm842和计算机构成PC计算机控制系统,控制测试过程电压升降、A/D转换、数据的处理和分析。

模块设计

耐压测试以高性能单片机ADCm842为核心组成计算机控制系统。ADCm842内部集成了12位A/D和D/A转换器，具有DMA控制器可完成A/D转换到RAM的高速转换。ADCm842具有优越的8052内核，峰值效率每秒可执行20兆指令。ADCm842内部有多大62KB的片内程序闪存;4KB的片内数据闪存，可擦写10万次的2.3KB的片内数据RAM。测试系统的单片机采用C51编程对测试进行控制和数据的处理，PC计算机主要提供人机交互的界面。这种测试系统应用起来灵活方便。

测试控制系统包括对电压源的控制、数据的采集、A/D转换、数据分析、数据输出和显示、数据存储等，同时耐压测试系统软件可实现测试前自检，自动消除可能的误差因素和对故障报警等功能。通过软件实现对测试电压的准确控制。当测试电压达到测试要求值时，启动测试。软件按照IEC61010中的测试标准对电压进行控制。计算机采用VC++编程，测试界面直观操作方便。用户可以按照实际测试设置不同的测试时间和泄漏电流阈值，可以监视测试进度并显示测试结果，如果在测试过程中发生被测样品击穿现象或其它可能的过流现象，测试仪的输出电压能迅速降为零，并发出报警信号。

实际测试选用0.5级的ZX117A型可调高压电阻箱作为标准被测件，通过单片机控制输出电压升到设定值，用南京长胜的CS1940型数字高压表监视电压输出，输出电压的误差不超过±1.5%。使用美国安捷伦的六位半数字万用表A-34401A测量系统漏电流，以漏电流的计算值为标准评价本系统的测试精度，按照国际标准IEC61010，以不同高电压施加在相同电阻上分别进行漏电流测试，测试结果表明，测量数据的重复性较好，漏电流的测试误差为±(1.5%±0.05mA)。

绝缘耐压测试仪测量范围 耐压AC0~5kV/100mA 绝缘DC250V 500V 1000V 1~9999MΩ 性能特点性能提升的绝缘耐压测试仪 测试电压、时间、漏电流、绝缘电阻全数显，准确美观 测量绝缘电阻值高达1010Ω 智能、单片机控制、测试绝缘电阻、电压、漏电流、时间可任意调节，范围广、准确度高 既可测试产品的电阻、电压也可对合格、不合格品进行筛选、声光报警 技术参数 输出电压AC 0~5kV ±3%，任意调节击穿电流AC 0~100mA ±5%，任意设定定 时1~99s， ±3%，手控绝缘电阻测试电压DC 250V/500V/1000V， 测量范围1~9999MΩ，±3%~±5%，任意设定变压器容量750VA 主要功能I/W、W/I自动转换，手动/自动，单片微处理器控制测试，合格/不合格声光报警，击穿保护等功能。